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Microscope à force atomique NanoScope IIIa VEECO
La microscopie à force atomique (AFM : atomic force microscopy) est une technique récente, développée en 1982 par les chercheurs Binning, Rohrer, Gerber et Weibel en collaboration avec IBM et l’Université de Stanford.
Le principe repose sur les interactions entre une pointe et la surface d’un échantillon, qui donne lieu à des forces répulsives ou attractives. Par mesure et contrôle de ces forces, la technique nous permet de mettre en image la topographie de la surface et d’étudier d’autres phénomènes physiques à l’échelle nanométrique, et dans certains cas atomiques.
Le modèle que nous avons au LCS est un modèle standard (nanoscope IIIa) qui offre différents modes de fonctionnement comme le mode contact, non-contact et le mode « tapping ». Nous avons l’accessoire pour des mesures de forces magnétique et électrochimique.
Avantages
Cette technique s’applique sur n’importe quels types d’échantillons (conducteur, semi-conducteur ou isolant, biologique) et surtout dans des environnements multiples (air, ultra-vide, liquide, électrochimique…) C’est là un avantage essentiel par rapport au microscope électronique, où l’échantillon ne peut être observé que dans le vide.
Techniques complémentaires
MEB haute résolution
Applications typiques
Topographie de surface de semi-conducteurs Contraste mécanique d’un polymère Interaction ADN-protéines Mesure de décharges électriques en électrochimie
Localisation
Local D1-2164 dans la Faculté des sciences, département de chimie
Formation
Oui
Autres infos
Contacts
Carole-Anne
Létourneau, M. Sc. Chimie
Normand Pothier, Ph D. Chimie Téléphone : (819) 821-8000 poste 62914 Courriel : Normand.Pothier@USherbrooke.ca |
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